Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/3970
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorPtashchenko, O.O.-
dc.contributor.authorPtashchenko, F.O.-
dc.contributor.authorMasleyeva, N.V.-
dc.contributor.authorBogdan, O.V.-
dc.contributor.authorShugarova, V.V.-
dc.date.accessioned2017-12-19T22:05:40Z-
dc.date.available2017-12-19T22:05:40Z-
dc.date.issued2008-11-17-
dc.identifier.urihttp://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/3970-
dc.description.abstractSulphur atoms passivation of GaAs surface and its influence on I-V characteristics of forward and reverse currents, photocurrent spectrum, and sensitivity of GaAs p-n structures as gas sensors were studied. The passivation reduces the excess forward current and reverse current in p-n junctions, enhances the photosensitivity in the spectral region of strong absorption, substantially increases the sensitivity to ammonia vapors. All these effects are explained, taking into account lowering of the surface states density as a result of sulphur atoms deposition.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherPhotoelectronics Inter-universities scientific articles, Odessa “Astroprint”uk_UA
dc.relation.ispartofseries№17;р.34-38-
dc.subjectpassivationuk_UA
dc.subjectp-n structuresuk_UA
dc.subjectgas sensorsuk_UA
dc.titleEffect of sulphur atoms on surface current in gaas P-n junctionsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Розташовується у зібраннях:Стаття в журналі

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Effect of sulphur atoms on surface current in gaas...pdfArticle300,98 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.