Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/3970
Назва: Effect of sulphur atoms on surface current in gaas P-n junctions
Автори: Ptashchenko, O.O.
Ptashchenko, F.O.
Masleyeva, N.V.
Bogdan, O.V.
Shugarova, V.V.
Ключові слова: passivation
p-n structures
gas sensors
Дата публікації: 17-лис-2008
Видавництво: Photoelectronics Inter-universities scientific articles, Odessa “Astroprint”
Серія/номер: №17;р.34-38
Короткий огляд (реферат): Sulphur atoms passivation of GaAs surface and its influence on I-V characteristics of forward and reverse currents, photocurrent spectrum, and sensitivity of GaAs p-n structures as gas sensors were studied. The passivation reduces the excess forward current and reverse current in p-n junctions, enhances the photosensitivity in the spectral region of strong absorption, substantially increases the sensitivity to ammonia vapors. All these effects are explained, taking into account lowering of the surface states density as a result of sulphur atoms deposition.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/3970
Розташовується у зібраннях:Стаття в журналі

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Effect of sulphur atoms on surface current in gaas...pdfArticle300,98 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.