Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/8585
Название: Дослідження морфології поверхні Арсеніду Галію
Авторы: Богдан, О.В.
Ключевые слова: морфологія
дослідження
Дата публикации: 2020
Издательство: Тези дововідей 76-ї науково-технічної конференції професорсько-викладацького складу академії
Библиографическое описание: с.73
Краткий осмотр (реферат): Морфологія поверхні проводилися за допомогою атомно-силового мікроскопу NT-206 [1]. Зменшення швидкості сульфідної модифікації не впливає на загальну кількість хімічних зв’язків сірки з поверхневими атомами напівпровідника [2]. Досліджувались ділянки поверхні монокристалічних пластин n-GaAs (100) до та після модифікації поверхні сіркою тривалістю 80 с, і виявилося, що після обробки на поверхні спостерігається утворення неоднорідностей.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://mx.ogasa.org.ua/handle/123456789/8585
Располагается в коллекциях:Тези доповідей 76-ї науково-технічної конференції професорсько-викладацького складу академії

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Дослідження морфології поверхні Арсеніду Галію.pdf249,71 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.